1.為什么儀器有時(shí)測(cè)量不準(zhǔn)確?
這是一個(gè)比較籠統(tǒng)的問(wèn)題。因?yàn)榫蛢x器不準(zhǔn)的原因來(lái)說(shuō)是多種多樣的。單對(duì)涂層測(cè)厚儀來(lái)說(shuō)，主要有下面幾種原因引起測(cè)量不準(zhǔn)確。
(1)強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。我們?cè)鲞^(guò)一個(gè)簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬(wàn)V左右的電磁場(chǎng)附近工作時(shí)，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場(chǎng)非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。
(2)人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。涂層測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓阉D(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過(guò)程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。
(3)在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒(méi)有選擇合適的基體。基體*小平面為7mm，*小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。
(4)附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須**附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。
(5)儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。
2.測(cè)量過(guò)程中，為什么有時(shí)候測(cè)量數(shù)據(jù)會(huì)出現(xiàn)明顯偏差?
測(cè)量過(guò)程當(dāng)中由于探頭放置方式不正確或者外界干擾因素的影響可能會(huì)造成測(cè)量數(shù)據(jù)明顯偏大。這時(shí)可以按住CAL鍵把該數(shù)據(jù)**以免進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)中去。
3.如何系統(tǒng)校準(zhǔn)?
校準(zhǔn)的方法、種類，這是新用戶經(jīng)常會(huì)遇到的問(wèn)題。系統(tǒng)校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)還有兩點(diǎn)校準(zhǔn)其實(shí)都已經(jīng)在說(shuō)明書上寫到了，用戶只需仔細(xì)閱讀就可以了。需要注意的是：在校準(zhǔn)鐵基時(shí)*好是多測(cè)量幾次以防止錯(cuò)誤操作;系統(tǒng)校準(zhǔn)的樣片要按照從小到大的順序進(jìn)行。如果個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)片丟失可以找與其數(shù)值相近的樣片代替。
4.有時(shí)開(kāi)機(jī)出現(xiàn)干擾是什么原因?
開(kāi)機(jī)后儀器屏幕出現(xiàn)測(cè)量狀態(tài)箭頭不能再次進(jìn)行測(cè)量，就說(shuō)明儀器受到了干擾。主要有兩個(gè)原因:
(1)開(kāi)機(jī)時(shí)探頭離鐵基太近，因?yàn)殍F基磁場(chǎng)的影響而受到了干擾。
(2)沒(méi)插好探頭或者探頭線有損傷。
涂層和覆層測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)涂層覆層厚度測(cè)量有了明確的要求和規(guī)定。
